Durch neue Schnittstellen und Vernetzung wird die IT-Sicherheit von eingebetteten Systemen wie z.B. IoT-Produkten, Fahrzeugsteuergeräten oder Smart-Metern zu einem zentralen Qualitätsmerkmal. Im Gegensatz zu klassischen Safety-Tests sind Sicherheitsprobleme unerwartet und schwer vorhersehbar. Jan Steffan, Experte vom Fraunhofer SIT, vermittelt den Teil­neh­men­den wie verschiedene Typen von Sicherheitsproblemen sowohl auf konzeptueller als auch auf Implementierungsebene effizient aufgespürt werden können. Aktuelle, praxiserprobte Untersuchungsmethoden und Vorgehensweisen zur Analyse eingebetteter Systeme werden in Hands-on-Übungen anschaulich vermittelt. Das Themenspektrum reicht von der Analyse der Leiterplatte über Angriffe auf Halbleiter- und Busebene, Sicherheit von Krypto-Chips, Fuzzing, Binäranalyse bis hin zur Analyse von Protokollen für drahtlose Schnittstellen.